1、 儀器性能特點

F-2000是我公司自主研發生產的能量色散型X熒光光譜儀，方便快捷的對多種形態樣品中的元素進行快速無損分析（包括對鐵基、鎳基、鈦基、鈷基、銅基等金屬材料中元素含量的檢測均可實現）。

2、主要技術指標

F-2000主要技術指標包括：探測器、一體化X射線發生器

（1）探測器

F-2000選用了Si-PIN探測器，用戶可根據自己的實際需要來選購。

（2）一體化X射線發生器

3、光譜分析系統控制和數據處理系統

（1）32位模/數轉換器

（2）3.5寸高清顯示器

（3）Atom Z510 1.1GHz處理器，1G內存

（4）8G工業級（PQI） CF卡,可以存儲更多數據

（5）自定義的XPE操作系統，用戶使用更方便

（6）一鍵式設計，測量停止只需點擊一下按鈕

（7）結果、譜圖兩種模式自由切換。結果模式測量數據每秒更新，可據數據的穩定程度隨時終止測量

（8）高容量聚合物鋰離子電池，可以連續使用6小時

（9）預留USB接口

4、應用領域

適用于金屬合金分析、廢舊金屬回收、合金材料鑒別（PMI）、生產制造控制等領域。

5、 尺寸規格

長*寬*高：260mm*95mm*280mm

重量：約1.8kg

6、 工作環境

--溫度范圍：-10℃—40℃。

--相對濕度：≤80%